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搜索结果  

探讨工艺离子污染测试(PICT)标准圆桌会议概要

  I-Connect007     六月 26, 2020

标准委员会发布了4项新测试标准中的第一项标准之后，I-Connect007于2020年4月17日召开圆桌会议，特邀几位行业专家共同探讨最近由IEC发布的工艺离子污染测试（PICT）标准。与会的专家有I ...查看更多

探讨工艺离子污染测试(PICT)标准圆桌会议概要

  I-Connect007     六月 26, 2020

标准委员会发布了4项新测试标准中的第一项标准之后，I-Connect007于2020年4月17日召开圆桌会议，特邀几位行业专家共同探讨最近由IEC发布的工艺离子污染测试（PICT）标准。与会的专家有I ...查看更多

SIR，CAF当下最流行的技术名词在这本免费电子书中为您讲解

  I-Connect007     五月 08, 2020

好书不断！由I-Connect007出版的《印制电路组装商指南》系列书籍又添新成员啦！让我们看看是否是您正在苦苦追寻的知识宝库……  Graham K. N ...查看更多

行业新标准开发的漫漫之路

  I-Connect007     十月 11, 2019

Gen3 Systems公司董事长兼首席执行官Graham Naisbitt已经投入了数十年时间来领导IPC、IEC和ISO等许多不同组织中清洁度测试标准的开发，包括CAF、SIR等各种测试方法，甚至 ...查看更多

CES展会回顾第二日：NVIDIA，三星和Intel公司的新品

  Dan Feinberg, Technology Editor     二月 22, 2019

紧接上次的CES新品发布会，本期我们带来了三大世界级领袖的发布会。 NVIDIA、三星和Intel三大公司在CES媒体日上的发布演讲既长又风趣，每家公司都有一系列新品。 英伟达  ...查看更多

CES展会回顾第二日：NVIDIA，三星和Intel公司的新品

  Dan Feinberg, Technology Editor     二月 21, 2019

紧接上次的CES新品发布会，本期我们带来了三大世界级领袖的发布会。 NVIDIA、三星和Intel三大公司在CES媒体日上的发布演讲既长又风趣，每家公司都有一系列新品。 英伟达  ...查看更多

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